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干法激光粒度分析儀

描述:干法激光粒度分析儀是一種用于測量顆粒尺寸分布的精密儀器,其工作原理主要基于激光散射技術。

更新時間:2024-11-21
產品型號:HD-JL800G
廠商性質:生產廠家
詳情介紹

干法激光粒度分析儀通過激光束穿透顆粒群體,測量散射光的強度來確定顆粒的大小。與濕法粒度儀相比,無需使用分散介質,可以直接對干燥、流動性好的顆粒進行測量,具有操作簡便、快速準確的特點。

產品特點:

1、激光智能管理系統——儀器使用國際的激光智能管理系統,實時監測儀器的工作狀態,一旦接收到工作的命令智能管理系統會瞬間點亮激光器,高性能激光器會在3秒內達到穩定的工作狀態。樣品測試完畢后智能管理系統會自動關閉激光器,激光器基本上不會衰減,理論上粒度儀可以終身不需要更換激光器。

2、全智能操作模式——惇點擊自動測試(可編輯)即可自動完成吸塵、供氣、背景采集、樣品分散、采集測量數據、保存、高壓吹掃等所有功能,操作人員只需放待測樣品,測試結果不受人為因素影響。

3、誤操作保護功能——儀器具有誤操作儀器無響應功能,手動測試儀器對錯誤的命令無響應。自動加注分散劑功能——部分樣品具有較強的團聚性,需加某些特定的分散劑,人工加注或多或少無法定量,自動加注系統會按需定量加注分散劑,測量結果穩定準確。

4、三鏡頭技術——傅里葉準直鏡頭+濾波鏡頭+標準傅里葉變換鏡頭單光路三鏡頭技術的采用,可有效的過濾掉光信號非必要的雜散光,可獲取到更純凈的光學背景,提高測量靈敏度。

5、超高速主板——超高速主板,16bit.200kbs的采樣速度,樣品在激光光束中0.1s即可得出準確結果。

產品參數:

測量原理:全量程激光衍射;

粒徑范圍:0.1um~800um(全量程測試);

探測系統:76通道均勻交叉及面積補償多方位陣列;

激光器:進口大功率光纖輸出半導體激光器,波長635nm、功率最大20mw;

光學模型:全量程全部米氏散射理論,包含高濃度多重散射動態補償技術;

濾波方式:三鏡頭技術,正.反傅里葉變換鏡頭+濾波鏡頭;

采集主板:16bit,200kps超高速采集主板,全新一代同時采集主板;

濃度范圍:遮光度3%,最高遮光度90%(光學濃度);

鏡頭:特殊鍍膜工藝處理,光信號透過率>99.7%;

光學對中系統:機械中心+光學中心雙定位全自動對中系統;

測量時間:典型值<10秒;

測量精度:準確性、重復性Dv50均優于±0.5%(NIST可溯源標準樣品);

測量方式:全自動測量

環境溫度:0°c~45°C;

環境濕度:10%~-85%相對濕度(無結凝);

電源要求:110V~240V(±20V),5OHz~60Hz;

執行標準:GB/T19077-2016/ISO13320:2009;

外觀尺寸:700mm×495mm×300mm;

儀器重量:35kg。

適用范圍:

干法激光粒度分析儀廣泛應用于多個領域,包括但不限于:
制藥工業:用于藥物顆粒的大小和分布分析,確保藥物的穩定性和有效性。
粉體材料領域:如金屬粉末、陶瓷粉末、顏料等顆粒物料的粒度分析,為材料加工和質量控制提供重要依據。
食品工業:用于食品顆粒、添加劑等顆粒物料的顆粒分布測量,保障食品安全和品質。
其他領域:如化工、環保、建材等領域,也常使用進行顆粒粒徑的測量和分析。

干法激光粒度分析儀

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